CMF系列电子分析天平

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上海越平JA系列电子精密天平

JA系列电子精密天平是实验室分析或质量控制较常用的电子天平，该天平称量大、精确度高、在较差使用环境下亦可达到精密称量的要求，天平内置标准输出口，可连接打印机、计算机等设备作现场质量控制。

JA1003B：4400
JA1203B：4600
JA2003B：4800
JA3003B：5700
JA4103B：6100
JA5003B：6530
JA11003：7550
JA12002：5800
JA21002：6300
JA31002：6900
JA21001：3990
JA31001：4480
JA41001：4850